全站儀是全站型電子速測儀的簡稱,是電子經緯儀、光電測距儀及微處理器相結合的光電儀器。世界上全站儀的品牌主要有徠卡、拓普康、尼康、南方、索佳等。全站儀是人們在角度測量自動化的過程中應運而生的,各類電子經緯儀在各種測繪作業中起著巨大的作用。全站儀的發展經歷了從組合式即光電測距儀與光學經緯儀組合,或光電測距儀與電子經緯儀組合,到整體式即將光電測距儀的光波發射接收系統的光軸和經緯儀的視準軸組合為同軸的整體式全站儀等幾個階段。LCD形貌掃描測量儀器。名優測量儀器扣件
較初速測儀的距離測量是通過光學方法來實現的,我們稱這種速測儀為“光學速測儀”。實際上,“光學速測儀”就是指帶有視距絲的經緯儀,被測點的平面位置由方向測量及光學視距來確定,而高程則是用三角測量方法來確定的。隨著電子測距技術的出現,逐漸地推動了速測儀的發展。用電磁波測距儀代替光學視距經緯儀,使得測程更大、測量時間更短、精度更高。人們將距離由電磁波測距儀測定的速測儀籠統地稱之為“電子速測儀”(Electronic Tachymeter)。然而,隨著電子測角技術的出現。這一“電子速測儀”的概念又相應地發生了變化,根據測角方法的不同分為半站型電子速測儀和全站型電子速測儀。智能化測量儀器技術指導油墨厚度三維形貌測量儀器。
全站儀這一較常規的測量儀器將越來越滿足各項測繪工作的需求,發揮更大的作用。全站儀的測角系統與傳統光學經緯儀測角系統不同點全站儀的測角系統與傳統光學經緯儀測角系統相比較,主要有兩個方面的不同:
(1)傳統的光學度盤被超高編碼度盤或光電增量編碼器所代替,用電子細分系統代替了傳統的光學測微器;
(2)由傳統的觀測者判讀觀測值及手工記錄變為觀測者直接讀數并自動記錄。
全站儀的測距系統與一般測距儀基本一致,只是體積更小,通常采用半導體砷化鎵發光二極管作為光源。不同廠家生產的不同類型及系列的全站儀,其比較大測程和距離測量誤差均有較大變化。
1.根據測量條件分為
(1)等精度測量:用相同儀表與測量方法對同一被測量進行多次重復測量
(2)不等精度測量:用不同精度的儀表或不同的測量方法,或在環境條件相差很大時對同一被測量進行多次重復測量
2.根據被測量變化的快慢分為
(1)靜態測量
(2)動態測量
1.直接測量法:不必測量與被測量有函數關系的其他量,而能直接得到被測量值的測量方法。
2.間接測量法:通過測量與被測量有函數關系的其他量來得到被測量值的測量方法。
3.定義測量法:根據量的定義來確定該量的測量方法。
4.靜態測量方法:確定可以認為不隨時間變化的量值的測量方法。
5.動態測量方法:確定隨時間變化量值的瞬間量值的測定方法。
6.直接比較測量法:將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。
7.微差測量法:將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較,通過測量這兩個量值間的差值來確定被測量值的測量方法。 精密結構件檢測儀器。
測量設備必須符合產品標準及其工藝文件的要求或預期使用要求,可從相關標準、顧客、產品性能、工藝圖紙的要求中找出相關的技術參數,再將技術參數轉換成測量要求,由此測量要求再根據1 /4以上的原則(即測量設備比較大允許誤差應優于至少測量的公差或容差的1 /4以上),將其轉換為計量要求。計量要求主要包括:測量范圍、分辨力、比較大允許誤差等。計量要求并不是要求越高越好,而是只要滿足使用的需要即可。可見它并不是指某臺或某類設備,而是對測量所包括的硬件和軟件的統稱。東莞一鍵測量測量儀器。立體化測量儀器固定
新的測試理論和方法研究、人工智能理論研究、頻率基溯源與標準器獲得方法研究。名優測量儀器扣件
測量誤差的性質(1)隨機誤差對同一被測量進行多次重復測量時,相對值和符號不可預知地隨機變化,但就誤差的總體而言,具有一定的統計規律性的誤差稱為隨機誤差。引起的原因是測量過程中測量人員和測量設備的隨機因素造成的,在測量過程中是不可避免的,只能通過提高測量實施人員的測量技術技能,改善測量方法或提高測量儀器儀表系統的精度來減少隨機誤差。(2)系統誤差對同一被測量進行多次重復測量時,如果誤差按照一定的規律出現,則把這種誤差稱為系統誤差。例如,標準量值的不準確及儀表刻度的不準確而引起的誤差。引起的原因,主要是由于測量實施方案或測量儀器儀表系統的不完善造成的,可以通過改進完善測量方案或改進測量儀器儀表系統來減少系統誤差。名優測量儀器扣件
上海岱珂機電設備有限公司位于上海市奉賢區泰葉路159弄33號,交通便利,環境優美,是一家貿易型企業。是一家有限責任公司(自然)企業,隨著市場的發展和生產的需求,與多家企業合作研究,在原有產品的基礎上經過不斷改進,追求新型,在強化內部管理,完善結構調整的同時,良好的質量、合理的價格、完善的服務,在業界受到寬泛好評。公司擁有專業的技術團隊,具有光譜共焦傳感器,高精度3D測量系統,涂層厚度檢測傳感器,同軸激光位移傳感器等多項業務。岱珂機電順應時代發展和市場需求,通過**技術,力圖保證高規格高質量的光譜共焦傳感器,高精度3D測量系統,涂層厚度檢測傳感器,同軸激光位移傳感器。