被光束照射到的電子會吸收光子的能量,但是其中機制遵照的是一種非全有即全無的判據,光子所有能量都必須被吸收,用來克服逸出功,否則這能量會被釋出。假若電子所吸收的能量能夠克服逸出功,并且還有剩余能量,則這剩余能量會成為電子在被發射后的動能。逸出功 W 是從金屬表面發射出一個光電子所需要的較小能量。如果轉換到頻率的角度來看,光子的頻率必須大于金屬特征的極限頻率,才能給予電子足夠的能量克服逸出功。逸出功與極限頻率之間的關系為其中,h是普朗克常數,W是光頻率為的光子的能量??朔莩龉χ?,光電子的比較大動能為其中,hv 是光頻率為 v的光子所帶有并且被電子吸收的能量。實際物理要求動能必須是正值,因此,光頻率必須大于或等于極限頻率,光電效應才能發生。包括與機器的數據交互接口,可實現自動測量線和誤差補償!天津激光干涉儀多層厚度測量
1、一次線圈串聯在電路中,并且匝數很少,因此,一次線圈中的電流完全取決于被測電路的負荷電流.而與二次電流無關;
2、電流互感器二次線圈所接儀表和繼電器的電流線圈阻抗都很小,所以正常情況下,電流互感器在近于短路狀態下運行。電流互感器一、二次額定電流之比,稱為電流互感器的額定互感比:kn=I1n/I2n因為一次線圈額定電流I1n己標準化,二次線圈額定電流I2n統一為5(1或0.5)安,所以電流互感器額定互感比亦已標準化。kn還可以近似地表示為互感器一、二次線圈的匝數比,即kn≈kN=N1/N2式中N1.N2為一、二線圈的匝數。 高精度激光干涉儀3D玻璃測量三坐標測量機和加工中心的校準。
按一次繞組對地運行狀態分一次繞組接地的電壓互感器:單相電壓互感器一次繞組的末端或三相電壓互感器一次繞組的中性點直接接地;一次繞組不接地的電壓互感器:單相電壓互感器一次繞組兩端子對地都是絕緣的;三相電壓互感器一次繞組的各部分,包括接線端子對地都是絕緣的,而且絕緣水平與額定絕緣水平一致。按磁路結構分單級式電壓互感器:一次繞組和二次繞組 (根據需要可設多個二次繞組同繞在一個鐵芯上,鐵芯為地電位。我國在及以下電壓等級均用單級式;串級式電壓互感器:一次繞組分成幾個匝數相同的單元串接在相與地之間,每一單元有各自獨自的鐵芯,具有多個鐵芯,且鐵芯帶有高電壓,二次繞組(根據需要可設多個二次繞組處在較為末一個與地連接的單元。我國在電壓等級常用此種結構型式;組合式互感器:由電壓互感器和電流互感器組合并形成一體的互感器稱為組合式互感器,也有把與組合電器配套生產的互感器稱為組合式互感器。
穿心式電流互感器其本身結構不設一次繞組,載流(負荷電流)導線由L1至L2穿過由硅鋼片搟卷制成的圓形(或其他形狀)鐵心起一次繞組作用。二次繞組直接均勻地纏繞在圓形鐵心上,與儀表、繼電器、變送器等電流線圈的二次負荷串聯形成閉合回路,由于穿心式電流互感器不設一次繞組,其變比根據一次繞組穿過互感器鐵心中的匝數確定,穿心匝數越多,變比越小;反之,穿心匝數越少,變比越大,額定電流比I1/n:式中I1——穿心一匝時一次額定電流;n——穿心匝數。 在測量軟件WAVE的FFT圖中,實時顯示位移數據,可快速簡便地進行頻譜分析,以識別共振頻率!
體型半導體應變片這種半導體應變片是將單晶硅錠切片、研磨、腐蝕壓焊引線,結尾粘貼在鋅酚醛樹脂或聚酰亞胺的襯底上制成的。體型半導體應變片可分為6種。①普通型:它適合于一般應力測量;②溫度自動補償型:它能使溫度引起的導致應變電阻變化的各種因素自動抵消,只適用于特定的試件材料;③靈敏度補償型:通過選擇適當的襯底材料(例如不銹鋼),并采用穩流電路,使溫度引起的靈敏度變化極??;④高輸出(高電阻)型:它的阻值很高(2~10千歐),可接成電橋以高電壓供電而獲得高輸出電壓,因而可不經放大而直接接入指示儀表。⑤超線性型:它在比較寬的應力范圍內,呈現較寬的應變線性區域,適用于大應變范圍的場合;⑥P-N組合溫度補償型:它選用配對的P型和N型兩種轉換元件作為電橋的相鄰兩臂,從而使溫度特性和非線性特性有較大改善。 IDS與各種目標和目標材料兼容。高精度激光干涉儀3D玻璃測量
角度和迴轉測量,檢測軸承間隙。天津激光干涉儀多層厚度測量
干涉儀分雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類,前者有瑞利干涉儀、邁克耳孫干涉儀及其變型泰曼干涉儀、馬赫-秦特干涉儀等,后者有法布里-珀luogan涉儀等。干涉儀的應用極為guangfan。長度測量在雙光束干涉儀中,若介質折射率均勻且保持恒定,則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發生變化所造成,根據條紋的移動數可進行長度的精確比較或juedui測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀luogan涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。折射率測定兩光束的幾何路程保持不變,介質折射率變化也可導致光程差的改變,從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。 天津激光干涉儀多層厚度測量